半導(dǎo)體相關(guān)產(chǎn)品

滿足超細(xì)微化，短交貨時(shí)間和低成本的頂尖產(chǎn)品

我們提供用于半導(dǎo)體晶圓制造過(guò)程中的電氣檢測(cè)的探針卡，用于半導(dǎo)體最終制程檢查的測(cè)試插座，用于電氣檢測(cè)確定的半導(dǎo)體測(cè)試器，
以及用于器件開(kāi)發(fā)和不良分析的晶圓探測(cè)器（手動(dòng)，半自動(dòng)）探針臺(tái)。
我們擁有一系列滿足市場(chǎng)需求的尖端產(chǎn)品。

產(chǎn)品示例

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  晶圓探針臺(tái)（Wafer Prober)
  （手動(dòng)探針臺(tái)，半自動(dòng)探針臺(tái)）
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  半導(dǎo)體檢測(cè)裝置(Tester)

FPD相關(guān)產(chǎn)品

為提升液晶面板的生產(chǎn)品質(zhì)及效率,做出貢獻(xiàn)

我們向客戶提供FPD(Flat Panel Display)制造所需的電氣信號(hào)傳輸用Probe Unit, 為提高液晶面板的生產(chǎn)品質(zhì)及效率做出貢獻(xiàn)。

產(chǎn)品示例

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  探測(cè)單元(Probe Unit)