半導體相關產品
提供適合各種需求的測試解決方案！
MJC提供廣泛的解決方案，有助于提高半導體設計和制造的質量和生產率，
包括探針卡，測試儀，晶圓探測器和測試插座，用于半導體晶圓檢測過程中的最終測試。
晶圓探針臺（Wafer Prober)（手動探針臺，半自動探針臺）
這是一種將探針與晶片接觸并從測試儀或測量儀器傳輸電信號以評估半導體器件的特性并判斷其是好還是壞的裝置。
MJC的產品種類繁多，從用于研究和開發的手動探測器到用于大規模生產測試的自動探測器。
主要產品
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半自動探針臺(8英寸 微小電流測定用) -
手動探針臺(8英寸 微小電流測定用) -
手動探針臺(6英寸/8英寸） -
手動探針臺（12英寸） -
便攜式手動探針臺（2英寸/4英寸） -
溫度控制器(熱夾頭) -
選配 -
配件
半導體檢測裝置(Tester)
半導體測試設備（測試儀）是一種設備，
用于確定半導體晶圓檢測過程中的器件質量以及封裝后的最終檢測過程。
MJC提供理想測試儀，可滿足從開發/故障分析到批量生產的各種需求，并有助于降低測試成本。